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簡(jiǎn)要描述:冷熱沖擊箱由高溫箱、低溫箱和試驗(yàn)箱組成,是目前市場(chǎng)上常見的一種類型。它在測(cè)試過程中,產(chǎn)品首先置于高溫箱或低溫箱中,在惡劣的熱或冷環(huán)境中暴露一段時(shí)間后,立即轉(zhuǎn)移到試驗(yàn)箱中進(jìn)行快速溫度變化的沖擊。這種冷熱交替的測(cè)試方式可以模擬產(chǎn)品在實(shí)際使用中頻繁經(jīng)歷的溫度變化,從而發(fā)現(xiàn)可能存在的問題和缺陷。
詳細(xì)介紹
價(jià)格區(qū)間 | 10萬-20萬 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 能源,建材,電子,印刷包裝 |
冷熱沖擊箱|三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)安全裝置:
配有:超溫保護(hù);壓縮機(jī)超壓;過載;過流保護(hù);風(fēng)機(jī)過載保護(hù)相序保護(hù),漏電保護(hù);
電源:AC380V50Hz
實(shí)驗(yàn)用低溫沖擊箱|實(shí)驗(yàn)用高低溫沖擊試驗(yàn)箱根據(jù)實(shí)驗(yàn)需求及測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)分為三箱式和兩箱式,區(qū)別在于實(shí)驗(yàn)方式和內(nèi)部結(jié)構(gòu)不同。三箱式分為蓄冷室,蓄熱室和實(shí)驗(yàn)室,產(chǎn)品在測(cè)試時(shí)是放置在實(shí)驗(yàn)室。
三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)用于電子電器零組件、自動(dòng)化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、塑膠等行業(yè),國(guó)防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、電子芯片IC、 半導(dǎo)體陶瓷及高分子材料之物理性變化,測(cè)試其材料對(duì)高、低溫的反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從精密的IC到重機(jī)械的組件,無一不需要它的理想測(cè)試工具。
三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)是一種用于測(cè)試材料、產(chǎn)品或設(shè)備在溫度情況下的性能的測(cè)試設(shè)備。它主要由三個(gè)部分組成:高溫箱、低溫箱和工作箱。
工作室尺寸:
350×400×350(mm);
500×400×400(mm);
600×500×500(mm);
700×600×600(mm)(W×H×D)
外形尺寸:以選擇每款工作室尺寸的實(shí)際外形尺寸為標(biāo)準(zhǔn)。
追高溫沖擊范圍: 150℃
追低溫沖擊范圍: -65℃
高低溫沖擊范圍有:-40℃~+150℃;-55℃~+150℃;-65℃~+150℃;
高溫室儲(chǔ)存追高溫度范圍: 60℃~+200℃;
低溫室儲(chǔ)存追低溫度范圍: 60℃~-75℃;
高溫室升溫時(shí)間:+20℃~+200℃約60分鐘
低溫室降溫時(shí)間:+20℃~-75℃約100分鐘
溫度恢復(fù)時(shí)間: 3~5min(追快轉(zhuǎn)換時(shí)間在10秒鐘內(nèi)可完成)
溫度波動(dòng)度:±0.5℃
溫度偏差: ≤±2℃
高溫箱和低溫箱分別用于產(chǎn)生高溫和低溫環(huán)境,可以通過恒定溫度或溫度變化循環(huán)產(chǎn)生預(yù)定溫度。工作箱是待測(cè)樣品的放置區(qū)域,可以進(jìn)行沖擊測(cè)試,包括冷、熱、濕等不同環(huán)境條件的沖擊測(cè)試,以測(cè)試樣品在溫度環(huán)境下的耐受性和性能。
另一個(gè)重要的優(yōu)點(diǎn)是三箱冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)的高效性。它能夠在相對(duì)較短的時(shí)間內(nèi)完成一系列復(fù)雜的溫度變化測(cè)試,大大提高了產(chǎn)品開發(fā)和測(cè)試的效率。相比于傳統(tǒng)的長(zhǎng)時(shí)間恒溫測(cè)試,冷熱沖擊試驗(yàn)機(jī)可以更快地暴露出可能存在的問題,幫助廠商及時(shí)發(fā)現(xiàn)和解決質(zhì)量和可靠性方面的隱患,避免將潛在問題帶入市場(chǎng)。
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